Page 130 - 空气污染控制与微粉捕集技术

Air Pollution Control and Micropowder Capture Technology
空气污染控制与微粉捕集技术

遵循标准物质使用说明，确保有效期、储存条件、最小使用量、干燥条件等满足

条件。
（二）分析方案的选择
INAA 有很多可调参量，如辐照时间、衰变时间、测量时间；探测器类型（低

能探测器，井型探测器，同轴探测器）；源与探测器的距离等。在有限的分析时
间和分析成本内，需要选定一个符合需求的最优化的大气颗粒物 INAA 分析方案，
来获得较高的信号背景比。在大气颗粒物样品中子活化分析中，基于大气颗粒物
样品成分的先验信息和实验室经验，通常使用几种不同的辐照时间 - 衰变时间组

合，如一次短照后测量一到三次，一次长照后测量两次，使各指示核素在某一组
合中得到最佳的计数统计。
（三）高纯锗 γ 谱仪性能控制
高纯锗 γ 谱仪性能会受到电子学噪声波动、探测器本底等因素影响，需经常

检查 γ 探测器的性能参数，包括峰位置、分辨率 / 半高宽、探测器效率、峰形是
否符合高斯分布、峰的对称性等。这一过程的质量保证措施包括：通过测量已知
活度的放射源，如 152Eu，从 γ 能谱的主峰宽、峰位和峰面积验证探测器性能，
利用控制表记录以上信息来监测高纯锗探测器的效率和分辨率，并进行趋势分析；

通过本底测量，发现是否存在探测器或试样架的污染或其他源干扰；定期保养探
测系统，例如，对高压电源配件进行内部清洁可预防由灰尘聚集引起的杂散的高
频干扰，预防峰展宽。
（四）测量

在测量过程中，待测大气颗粒物样品和比较器的测量条件差异，将产生分析
误差，表现在：高计数率导致的死时间和堆积效应；因大气颗粒物样品和比较器
的物理尺寸差异，造成大气颗粒物样品和比较器与探测器有效距离不同，从而引
起全能峰效率差异等。这一过程的质量保证措施包括：在保证短照后第一次测量

时死时间＜ 5%，且其余测量时死时间＜ 10% 的条件下，将样品置于尽可能接近
探测器的位置；实验人员应确定每次测量的时间和位置，保持待测样品与比较器
的测量条件一致；对于不同测量位置应进行效率归一，可采用已知活化比的放射
源进行实验测量，或基于有效作用深度原理进行参数计算。

（五）γ 谱分析
γ 谱分析可通过商用解谱软件完成。在使用软件进行 γ 谱分析时，质量保证

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