Page 26 - 计量测试技术分析
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计量测试技术分析
            Analysis of Measurement and Testing Technology


            级研究计划局(Defense Advanced Research Projects Agency,DARPA)支持下,
            详细研究了 MEMS 的可靠性问题,并发布了《MEMS 可靠性:基本单元、测试
            结构、试验和失效模式》。该报告以失效分析为基础,建立MEMS的合格评定模式。

            同时,该报告阐述了在 MEMS 器件上开发测试结构进行可靠性试验的重要性,
            并设计、表征了可靠性测试结构。此外,该报告还研究了 MEMS 器件的失效模式,
            特别是在不同环境(湿度、温度、冲击、振动和储存)中的失效模式,建立了未
            来 MEMS 器件的可靠性设计规则。


                二、中国 MEMS 计量测试的参考借鉴

                (一)计量测试规划方面
                中国必须遵守 IEC 国际标准、SEMI 标准等,目前,中国 MEMS 计量测试

            在发展规划方面可以从以下几个方面参考借鉴国外 MEMS 计量测试技术:第
            一,国际计量组织和机构花费大量精力专注于 MEMS 计量测试技术研究,相应
            的资料可以为我们参考借鉴;第二,借鉴国外 MEMS 计量测试技术,结合中国
            MEMS 计量测试建设的具体情况,加强 MEMS 计量测试技术的发展规划布局;

            第三,参考 EURAMET 的“2015 版 MEMS/NEMS 计量路线图”,研究制定中
            国的“MEMS/NEMS 计量路线图”,建立适应中国 MEMS 计量测试技术发展的
            “MEMS 计量体系表”;第四,结合中国现在快速发展的 MEMS 产业需求,对
            未来二十年内 MEMS 产品需要的微材料特性测量方法、微结构测量方法、标准

            物质等方面做出全面、详细的规划;第五,结合国内 MEMS 产业现状和发展要
            求,制定一批具有指导意义的产品规范、测试方法和计量规范,有力支撑中国
            MEMS 产业的发展。

                (二)计量测试技术方面
                MEMS 计量测试技术的重点工作是跟踪国际 MEMS 计量测试技术的前沿动
            态,同时结合中国成熟的 MEMS 产品,及时对 MEMS 器件测试方法、规范进行
            修订,建立完善的 MEMS 器件计量测试技术体系。在 MEMS 器件参数测试方面,
            借鉴 IEC,SEMI 等标准,研究 MEMS 器件微材料特性、微结构(微器件)特性

            的测量方法,结合中国主导制定的 IEC62047-25、IEC62047-41 等,研究适用于
            MEMS 器件的具体测量方法,分析微材料特性、微结构参数变化对 MEMS 器件
            性能和质量可靠性的影响,为 MEMS 器件产品质量评定标准、失效分析标准以



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